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汎用テスター

TEST CUBE

小型・低価格のインサーキットテスター

マイコン制御のため、検査プログラムをパソコンからダウンロードするため、
これ一台で検査が可能です。低価格にてご提供いたします。

TEST CUBEは実装部品が数点の小型基板やコネクタ I/O 基板、及びワイヤハーネス・ケーブル Assy等の検査に対応したコンパクトなインサーキットテスタです。
さらにHV測定機能(最大測定48V/印加電流5mA~30mA任意設定可)、LED点滅制御(点灯状態の保持、点滅制御)機能を搭載しました。
これにより操作表示基板等の検査が、治具無しで実現可能です。

システム制御は専用のワンボードマイコンにて、制御をおこない、コンパクトなボディに機能を集約しました。
テストプログラムはパソコン(別売)にて専用エディタ(オプション)で作成、編集し、RS-232CにてTEST CUBE本体へダウンロードします。
パソコンで編集中はTEST CUBEより受信した測定値を表示して、測定値と上限下限値が確認できます。

コンパクトなボディに最大384ピンのマルチプレクサ

TEST CUBEは、定評あるC-MOS型アナログSWを使用して、コンパクトなボディに384ピン(最大)のMPXボードが装着できます。

実装部品の検査に必要な測定モードを標準装備

従来の小型テスターでは単純なオープ・ショートテストの単機能型がほとんどでした。
そこで、TEST CUBEはコンポーネントテストモードを標準装備することにより、ワイヤハーネスやケーブルAssyは元より、IC・LSI・抵抗・コンデンサ(極性含む)・ダイオード/トランジスタ等の電子部品が実装された基板でも部品単位で不良個所の特定を可能にしました。
もちろんローパワー計測はそのままです。(標準仕様時)

プログラムの作成・編集には簡単操作の専用ツールを用意

TEST CUBEのプログラム作成及び編集にはWindowsの環境で動作する専用の編集ツールを用意しました。
難しいトレーニングは不要です。

TEST CUBE基本仕様

テストポイント 標準64ピン 最大384ピン(64ピン単位で増設)
テストステップ S最大512ステップ(コンポーネントテスト部)
オープン/
ショートテスト
テスト方式 バイナリ検索
しきい値 5Ω~100Ω可変
テスト電圧 0.2V
テスト時間 約2ms
テストポイント 抵抗 10.0Ω~4.0MΩ
ジャンパー
しきい値 5Ω~100Ω可変
コンデンサ 1μF~4mF
コンデンサ極性
判定可能
ダイオード・
トランジスタ
0.1V~9.9V
HVテスト 電圧印加
10~48V
定電流印加電圧測定(電流リミット可変機能付)
0.1V~48.0V(5mA~30mA)
システム制御部 ワンチップマイコン制御
表示部 LCD20文字×4行 英数カナ表示
電源電圧 標AC100V~130V/180V~240V
消費電力 200VA
使用環境 温度:25℃±10℃ 湿度:30%~80%(結露なし)
外形塗装色 標マンセル値7.5PB4/12・前面(パネル部/マンセル値N9.5)
外形寸法 W210×H280×D320

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